414 Results for : metrology

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    Erscheinungsdatum: 05.10.2018, Medium: Buch, Einband: Gebunden, Titel: Truth and Traceability in Physics and Metrology, Autor: Grabe, Michael, Verlag: IOP Concise Physics, Sprache: Englisch, Schlagworte: SCIENCE // Weights & Measures, Rubrik: Physik // Astronomie, Allgemeines, Lexika, Seiten: 82, Informationen: HC gerader Rücken kaschiert, Gewicht: 353 gr, Verkäufer: averdo
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    Erscheinungsdatum: 12/2012, Medium: Taschenbuch, Einband: Kartoniert / Broschiert, Titel: On-Chip Time-Domain Metrology in Submicron CMOS, Autor: Lin, Chin-Hsin, Verlag: LAP Lambert Academic Publishing, Sprache: Englisch, Rubrik: Elektronik // Elektrotechnik, Nachrichtentechnik, Seiten: 96, Informationen: Paperback, Gewicht: 159 gr, Verkäufer: averdo
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    Erscheinungsdatum: 30.10.2019, Medium: Buch, Einband: Gebunden, Titel: High Definition Metrology Based Surface Quality Control and Applications, Auflage: 1. Auflage von 2019 // 1st ed. 2019, Autor: Du, Shichang // Xi, Lifeng, Verlag: Springer Singapore, Sprache: Englisch, Rubrik: Maschinenbau // Fertigungstechnik, Seiten: 344, Informationen: HC runder Rücken kaschiert, Gewicht: 705 gr, Verkäufer: averdo
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    Erscheinungsdatum: 16.02.2020, Medium: Taschenbuch, Einband: Kartoniert / Broschiert, Titel: Metrology. Or, an Exposition of Weights and Measures. With Appendix, Autor: Tbd, Verlag: HardPress Publishing, Sprache: Englisch, Schlagworte: HISTORY // General, Rubrik: Geschichte, Seiten: 170, Informationen: Paperback, Gewicht: 256 gr, Verkäufer: averdo
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    Erscheinungsdatum: 10.12.2015, Medium: Buch, Einband: Gebunden, Titel: Metrology in Marine Chemistry, Autor: Quevauviller, Philippe P // Ciavola, Paolo // Garnier, Emmanuel, Verlag: John Wiley & Sons, Ltd., Sprache: Englisch, Schlagworte: SCIENCE // Energy, Rubrik: Mechanik // Akustik, Seiten: 312, Informationen: HC gerader Rücken kaschiert, Gewicht: 636 gr, Verkäufer: averdo
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    Erscheinungsdatum: 02.01.2020, Medium: Buch, Einband: Gebunden, Titel: A Practical Guide to Surface Metrology, Auflage: 1. Auflage von 1920 // 1st ed. 2019, Autor: Quinten, Michael, Verlag: Springer International Publishing, Sprache: Englisch, Schlagworte: Wissenschaftliche Standards // Normung usw // Optische Physik // Oberflächenchemie und Adsorption // Materialwissenschaft // Werkstoffprüfung // Angewandte Optik, Rubrik: Technik allgemein, Seiten: 256, Informationen: HC runder Rücken kaschiert, Gewicht: 544 gr, Verkäufer: averdo
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    Erscheinungsdatum: 16.06.2020, Medium: Buch, Einband: Gebunden, Titel: Advances in Metrology and Measurement of Engineering Surfaces, Titelzusatz: Select Proceedings of ICFMMP 2019, Auflage: 1. Auflage von 1920 // 1st ed. 2021, Redaktion: Krolczyk, Grzegorz // Prakash, Chander // Pramanik, Alokesh // Singh, Sunpreet, Verlag: Springer Singapore, Sprache: Englisch, Schlagworte: Wissenschaftliche Standards // Normung usw // Tribologie // Reibung und Schmierung // Materialwissenschaft // Werkstoffprüfung // Fertigungstechnik und Ingenieurwesen, Rubrik: Maschinenbau // Fertigungstechnik, Seiten: 280, Informationen: HC runder Rücken kaschiert, Gewicht: 588 gr, Verkäufer: averdo
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    Erscheinungsdatum: 21.11.2013, Medium: Taschenbuch, Einband: Kartoniert / Broschiert, Titel: Radionuclide Metrology in the Fields of Food and Environment, Titelzusatz: The Development of a Matrix Reference Material for the Determination of Radionuclides, Redaktion: European Commission, European Commission // Joint Research Centre, Joint Research Centre, Verlag: Dictus Publishing, Sprache: Englisch, Rubrik: Wärme- // Energie-, Kraftwerktechnik, Seiten: 108, Informationen: Paperback, Gewicht: 177 gr, Verkäufer: averdo
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    Erscheinungsdatum: 16.10.2018, Medium: Buch, Einband: Gebunden, Titel: Advanced Mathematical and Computational Tools in Metrology and Testing XI, Redaktion: Alistair B Forbes // Anna Chunovkina // Nien-Fan Zhang, Verlag: WSPC, Sprache: Englisch, Schlagworte: MATHEMATICS // Measurement, Rubrik: Mathematik // Grundlagen, Seiten: 458, Informationen: HC gerader Rücken kaschiert, Gewicht: 811 gr, Verkäufer: averdo
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    Erscheinungsdatum: 07.06.2018, Medium: Taschenbuch, Einband: Kartoniert / Broschiert, Titel: Metrology and Physical Mechanisms in New Generation Ionic Devices, Auflage: Softcover reprint of the original 1st ed. 2016, Autor: Celano, Umberto, Verlag: Springer International Publishing, Sprache: Englisch, Schlagworte: Wissenschaftliche Ausstattung // Experimente und Techniken // Andere Fertigungsverfahren // Werkstoffprüfung, Rubrik: Mechanik // Akustik, Seiten: 200, Informationen: Paperback, Gewicht: 312 gr, Verkäufer: averdo
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