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  Reifenberger, Ronald: Fundamentals of Atomic Force Microscopy

  Erscheinungsdatum: 29.09.2015, Medium: Taschenbuch, Einband: Kartoniert / Broschiert, Titel: Fundamentals of Atomic Force Microscopy, Titelzusatz: Part I: Foundations, Autor: Reifenberger, Ronald, Verlag: WSPC, Sprache: Englisch, Schlagworte: Experiment // Versuch // Forschung // naturwissenschaftlich // Materialwissenschaft // SCIENCE // Nanoscience, Rubrik: Atomphysik // Kernphysik, Seiten: 342, Informationen: Paperback, Gewicht: 496 gr, Verkäufer: averdo

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  Ul-Hamid, Anwar: A Beginners' Guide to Scanning Electron Microscopy

  Erscheinungsdatum: 19.01.2019, Medium: Taschenbuch, Einband: Kartoniert / Broschiert, Titel: A Beginners' Guide to Scanning Electron Microscopy, Auflage: Softcover reprint of the original 1st ed. 2018, Autor: Ul-Hamid, Anwar, Verlag: Springer International Publishing, Sprache: Englisch, Schlagworte: Wissenschaftliche Ausstattung // Experimente und Techniken // Biologie // Biowissenschaften // Nanotechnologie // Andere Fertigungsverfahren // Werkstoffprüfung, Rubrik: Maschinenbau // Fertigungstechnik, Seiten: 424, Informationen: Paperback, Gewicht: 644 gr, Verkäufer: averdo

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  Slayter, Elizabeth M.: Light and Electron Microscopy

  Erscheinungsdatum: 30.11.2007, Medium: Buch, Einband: Gebunden, Titel: Light and Electron Microscopy, Autor: Slayter, Elizabeth M. // Slayter, Henry S. // Slayter, Verlag: Cambridge University Press, Sprache: Englisch, Schlagworte: SCIENCE // Life Sciences // Molecular Biology, Rubrik: Biologie // Grundlagen, Seiten: 332, Informationen: HC gerader Rücken kaschiert, Gewicht: 664 gr, Verkäufer: averdo

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  Tsong, Tien T.: Atom-Probe Field Ion Microscopy

  Erscheinungsdatum: 29.06.2005, Medium: Taschenbuch, Einband: Kartoniert / Broschiert, Titel: Atom-Probe Field Ion Microscopy, Autor: Tsong, Tien T., Verlag: Cambridge University Press, Sprache: Englisch, Schlagworte: SCIENCE // Physics // General, Rubrik: Physik // Astronomie, Allgemeines, Lexika, Seiten: 400, Informationen: Paperback, Gewicht: 605 gr, Verkäufer: averdo

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  Kelvin Probe Force Microscopy

  Erscheinungsdatum: 19.03.2018, Medium: Buch, Einband: Gebunden, Titel: Kelvin Probe Force Microscopy, Titelzusatz: From Single Charge Detection to Device Characterization, Auflage: 1. Auflage von 2018 // 1st ed. 2018, Redaktion: Glatzel, Thilo // Sadewasser, Sascha, Verlag: Springer International Publishing, Sprache: Englisch, Schlagworte: Chemie // Technik // Werkstoffe // Berufe // Industrie // physikalisch // Physik // Physikalische Chemie // Experiment // Versuch // Fertigungstechnik // Forschung // naturwissenschaftlich // Massenspektrometrie // Spektrometrie // Materialprüfung // Nanotechnologie // Technologie // Oberfläche // Spektroskopie // Wissenschaft // Wissenschaftliche Standards // Normung usw // Wissenschaftliche Ausstattung // Experimente und Techniken // Oberflächenchemie und Adsorption // Andere Fertigungsverfahren // Materialwissenschaft // Werkstoffprüfung, Rubrik: Mechanik // Akustik, Seiten: 548, Informationen: HC runder Rücken kaschiert, Gewicht: 980 gr, Verkäufer: averdo

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  Reimer, Ludwig: Transmission Electron Microscopy

  Erscheinungsdatum: 19.10.2010, Medium: Taschenbuch, Einband: Kartoniert / Broschiert, Titel: Transmission Electron Microscopy, Titelzusatz: Physics of Image Formation, Auflage: Softcover reprint of hardcover 5th ed. 2008, Autor: Reimer, Ludwig // Kohl, Helmut, Verlag: Springer-Verlag New York Inc. // Springer US, Imprint: Springer Series in Optical Sciences, Sprache: Englisch, Schlagworte: Interdisziplinäre Studien // Optische Physik // Zellbiologie // Zytologie, Rubrik: Sozialwissenschaften // Recht, Wirtschaft, Seiten: 590, Abbildungen: 21 Tables, black and white. 276 Illustrations, black and white. XVI, 590 p. 276 illus., Reihe: Springer Series in Optical Sciences, Gewicht: 904 gr, Verkäufer: averdo

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  Tishko, Tatyana: Holographic Microscopy of Phase Microscopic Objects

  Erscheinungsdatum: 10.05.2011, Medium: Buch, Einband: Gebunden, Titel: Holographic Microscopy of Phase Microscopic Objects, Titelzusatz: Theory and Practice, Autor: Tishko, Tatyana // Dmitry, Tishko // Vladimir, Titar, Verlag: World Scientific Publishing Company, Sprache: Englisch, Schlagworte: TECHNOLOGY & ENGINEERING // Holography, Rubrik: Technik // Sonstiges, Seiten: 108, Informationen: HC gerader Rücken kaschiert, Gewicht: 321 gr, Verkäufer: averdo

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  Transmission Electron Microscopy Methods for Understanding the Brain

  Erscheinungsdatum: 30.05.2018, Medium: Taschenbuch, Einband: Kartoniert / Broschiert, Titel: Transmission Electron Microscopy Methods for Understanding the Brain, Auflage: Softcover reprint of the original 1st ed. 2016, Redaktion: Bockstaele, Elisabeth J. van, Verlag: Springer New York // Springer US, Sprache: Englisch, Rubrik: Allgemeinmedizin // Diagnostik, Therapie, Seiten: 260, Informationen: Paperback, Gewicht: 496 gr, Verkäufer: averdo

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  Ul-Hamid, Anwar: A Beginners' Guide to Scanning Electron Microscopy

  Erscheinungsdatum: 12.11.2018, Medium: Buch, Einband: Gebunden, Titel: A Beginners' Guide to Scanning Electron Microscopy, Autor: Ul-Hamid, Anwar, Verlag: Springer-Verlag GmbH // Springer International Publishing, Sprache: Englisch, Schlagworte: Mikroskopie // Nanotechnologie // Technologie // Experiment // Versuch // Forschung // naturwissenschaftlich // Chemie // Massenspektrometrie // Spektrometrie // Spektroskopie // Biologie // Mensch // Biowissenschaften // Life Sciences // Technik // Werkstoffe // Berufe // Industrie // Fertigungstechnik // Materialprüfung // TECHNOLOGY & ENGINEERING // Materials Science // Wissenschaftliche Ausstattung // Experimente und Techniken // Andere Fertigungsverfahren // Werkstoffprüfung, Rubrik: Maschinenbau // Fertigungstechnik, Seiten: 402, Abbildungen: 100 schwarz-weiße und 115 farbige Abbildungen, 115 farbige Tabellen, Bibliographie, Herkunft: GROSSBRITANNIEN (GB), Informationen: Book, Gewicht: 799 gr, Verkäufer: averdo

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  Mclaren, Todd: Transmission Electron Microscopy of Minerals and Rocks

  Erscheinungsdatum: 30.06.2005, Medium: Taschenbuch, Einband: Kartoniert / Broschiert, Titel: Transmission Electron Microscopy of Minerals and Rocks, Auflage: 2. Auflage von 1950 // Revised, Autor: Mclaren, Todd // McLaren, Alex C., Verlag: Cambridge University Press, Sprache: Englisch, Schlagworte: SCIENCE // Earth Sciences // Mineralogy, Rubrik: Geologie, Seiten: 400, Informationen: Paperback, Gewicht: 612 gr, Verkäufer: averdo

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